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X-射线衍射光谱仪简介

X射线衍射光谱仪（XRD）是分析地质岩屑样品的一种
独特工具。XRD的第一个原型是从 Los Alamos 国家实
验室开发出来的，目的是想将其用于未来的火星任务中
，探测火星表面矿物质的元素含量和化学组成。美国RS
公司开发的这套XRD设备为油田勘探和开发提供岩屑样
品的晶体信息评价，确定岩样的矿物成分。随着专为地
质应用而设计的新系统的引进，X射线衍射仪已变得经
济有效、易于使用。X射线荧光光谱仪用X射线激发未知
样品。组成样品的单个元素受激发后产生特征的X射线，
通过检测这些X射线来定量确定被测物质中存在哪些元素。

能量散射系统（EDXRF）用半导体检测器检测X射线。半导体检测器
可一次激发多种元素，并同时进行分析，所以即使在ppm级的范围内
，也能快速分析。在用于岩矿分析中，关键是所带的图谱分析软件。
目前已从岩心实验室的分析仪器走向录井现场。

仪器特点与主要技术指标：

台式小型主机，配备全自动开关的大样品室。适应固体、液体、粉体、光盘、薄膜等各种类型的样品。扩展性优越，
16/8样品交换、真空/He气、4种准直仪、使用CCD摄像头观察样品等。

分析元素 11Na～92U（EDX-700）6C～92U（EDX-800）

样品型状最大300mm×150mm

X射线滤镜 5种自动交换软件定性、定量分析、FP法、薄膜FP法

XRD 的功能:

自动开关门的大样品室,大样品室最大可容纳300mm(直径）×150mm（高度）的样品。另外，操作者通过按
键即可实现的样品自动更换功能（专利）。

使用定量分析软件分析未知样品,软件可分析薄膜和有机质。还提供镀层厚度和成分分析软件。后台基本参数
技术除了分析X射线衍射外，还分析散射X射线，可以测量厚聚合物膜的厚度和分析有机质。

包括用于无标样分析的含量匹配软件, XRD能自动鉴定样品中基于X射线库的所有元素。除了标准功能外，还可
通过含量匹配软件提供定量信息。该方法把X射线的强度与不同样品的理论值和预测值进行对比。
如用户不需要昂贵的标样即可区分不同金属。

包括用于高灵敏度分析的5种滤镜,在许多种样品的分析中滤镜有助于提高信噪比。特别是使用这种方法，可以
获得较低的检测下限。

XRD 的优点：

体积小

易于操作

样品与检测器之间的距离较短，可在空气中进行分析，所以不需准备真空环境即能分析几乎所有的样品。